IEC62108 10.6高低溫(wen)溫(wen)度循環測試(shi)；IEC62108-溫度循環測試方(fang)法介紹

10.6.2測試范(fan)例(li)
二個接收器樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)對(dui)于程(cheng)序A溫度循環測試(shi)是必要的(de)(de)(de)(de)，全(quan)程(cheng)使用溫度循環，如果一個全(quan)尺寸的(de)(de)(de)(de)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)太大以致于不適合(he)放入試(shi)驗箱，或是因為設(she)備太昂貴而無法(fa)使用，可以針對(dui)這個試(shi)驗特別設(she)計(ji)與制造一個較(jiao)小的(de)(de)(de)(de)代(dai)(dai)表性(xing)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)，這樣(yang)(yang)被精(jing)心(xin)設(she)計(ji)的(de)(de)(de)(de)代(dai)(dai)表性(xing)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)，能夠展現與全(quan)尺寸類似的(de)(de)(de)(de)故障(zhang)機制，代(dai)(dai)表性(xing)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)制造過程(cheng)必須與全(quan)尺寸是接近的(de)(de)(de)(de)。

注解：高低溫溫度(du)循環試驗可(ke)找(zhao)出的可(ke)能失敗機制，包含：電池脆(cui)弱(ruo)的機械(xie)強度(du)，粗劣(lie)的總線和(he)焊接(jie)材料(松散、錯誤的銲錫、收縮)，不(bu)正確的接(jie)合(例如：差異過大的熱膨脹系數(shu)和(he)粘(zhan)結層(ceng)之間(jian)沒有(you)足夠的緩沖層(ceng))，錯誤的粘(zhan)合劑，以及較差的生產(chan)工藝。

在設計或制造具代表(biao)性(xing)的樣本，特別需要考慮(lv)應包含但不限制以下幾個方面：
a.替代的接(jie)收器在重復部分與(yu)章(zhang)節(jie)的使(shi)用。
b.全尺寸樣(yang)品可減少(shao)，如(ru)果可能的(de)話(hua)，嘗試使用至(zhi)少(shao)兩個滿(man)尺寸在部分(fen)章節

代表(biao)性樣品(pin)的應包含(han)所有非(fei)重復(fu)或(huo)局(ju)部部分，例如：電池串的終端連接(jie)(jie)和(he)轉(zhuan)角、電氣(qi)接(jie)(jie)頭、機械接(jie)(jie)頭、傳感器、旁路二(er)極管(guan)/阻流二(er)極管(guan)。 

東莞市科文(wen)試(shi)(shi)驗(yan)設備有(you)限公司(si)專業生(sheng)產：電池溫(wen)(wen)度(du)循(xun)環(huan)(huan)試(shi)(shi)驗(yan)箱，電池高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)箱，電池高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)循(xun)環(huan)(huan)測(ce)試(shi)(shi)箱，二極管高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)循(xun)環(huan)(huan)試(shi)(shi)驗(yan)箱，傳感器高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)測(ce)試(shi)(shi)箱，電路板高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)箱，線路板溫(wen)(wen)度(du)循(xun)環(huan)(huan)試(shi)(shi)驗(yan)箱，PCB高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)測(ce)試(shi)(shi)設備等。李菲女士精心為(wei)您(nin)提供系列高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)測(ce)試(shi)(shi)方法及試(shi)(shi)驗(yan)標(biao)準(zhun)。更多(duo)信息請登(deng)錄//szyqk.cn