電路板老化高低溫測試箱,電路板高低溫測試箱,電路板老化測試箱

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產品作用：

   電路板老化高低溫測試箱又名高低溫(wen)老化試驗箱，用于檢測電路板、線路板、電路線材、電路芯片及各種材料進行高低溫恒定和漸變、突發、耐熱、耐寒、耐干燥等環境模擬的可靠性及適應性。本試驗箱適用于各類電子電器、塑膠塑料、航空航天、半導體照明、光電通訊、汽車零部件、電線電纜、金屬五金、化工涂料、不干膠、紙品印刷、建材等行業品質檢測及研發新項目之用。更多產品請專業廠家。

參數性能：

容(rong)積(ji)：80L      150L      225L       408L      800L     1000L

規格（單位:mm）：（W×H×D ）

型號:KW-GD-80  內形尺寸： 400×500×400   外箱尺寸：970×1360×970

型號:KW-GD-150 內形尺寸： 500×600×500   外箱尺寸：1070×1460×1070
型號:KW-GD-225 內形尺寸： 500×750×600   外箱尺寸：1070×1610×1170
型號:KW-GD-408 內形尺寸： 600×850×800   外箱尺寸：1170×1710×1280
型號:KW-GD-800 內形尺寸： 1000×1000×800 外箱尺寸：1550×1850×1300

型號:KW-GD-1000 內形尺寸：1000×1000×1000 外箱尺寸：1550×1850×1500

溫(wen)度范圍： Z:0～150℃  T:-20～150℃  F:-40～150℃  S:-70～150℃

溫度(du)波動度(du)：±0.5℃   

溫(wen)度均勻度：±2.0℃

升溫速度：1.0～3.0℃/min

降溫速率：0.7～1.2℃/min
電  源:   1ф3W 220V±10% 或3ф5W380V±10%

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