高低溫測試(shi)箱的溫度波動度設定

高(gao)低(di)溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)箱(xiang)(xiang)（又稱高(gao)低(di)溫(wen)循(xun)環試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)）的(de)溫(wen)度(du)(du)、濕(shi)度(du)(du)試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)有(you)高(gao)低(di)溫(wen)恒定試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)、高(gao)低(di)溫(wen)交變(bian)試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)兩(liang)種情況。普通的(de)高(gao)低(di)溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)箱(xiang)(xiang)一般指(zhi)的(de)是恒定高(gao)低(di)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)，其控制方式為(wei)：設(she)定一個目(mu)(mu)標溫(wen)度(du)(du)，試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)具有(you)自動恒溫(wen)到(dao)目(mu)(mu)標溫(wen)度(du)(du)點的(de)能力。恒溫(wen)恒濕(shi)試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)的(de)控制方式也類似，設(she)定一個目(mu)(mu)標溫(wen)度(du)(du)、濕(shi)度(du)(du)點，試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)具有(you)自動恒溫(wen)到(dao)目(mu)(mu)標溫(wen)度(du)(du)、濕(shi)度(du)(du)點的(de)能力。

高(gao)、低溫(wen)交變(bian)(bian)試驗箱具有設(she)定(ding)一條(tiao)(tiao)或(huo)者多(duo)條(tiao)(tiao)高(gao)低溫(wen)變(bian)(bian)化、循(xun)環(huan)的程序，試驗箱有能(neng)(neng)力(li)根(gen)據(ju)預(yu)置的曲線完成試驗過(guo)程，并且(qie)可以(yi)在zui大升溫(wen)、降(jiang)溫(wen)速(su)(su)率能(neng)(neng)力(li)的范圍(wei)內(nei)，控制(zhi)升溫(wen)、降(jiang)溫(wen)的速(su)(su)率，即可以(yi)根(gen)據(ju)設(she)定(ding)的曲線的斜率控制(zhi)升溫(wen)、降(jiang)溫(wen)速(su)(su)率。同樣，高(gao)低溫(wen)交變(bian)(bian)濕(shi)熱試驗箱也具有預(yu)置溫(wen)度、濕(shi)度曲線，并且(qie)根(gen)據(ju)預(yu)置進行控制(zhi)的能(neng)(neng)力(li)。

 溫度波動度是一個比較容易實現的(de)參(can)數，所有環境(jing)試驗(yan)(yan)設(she)備(bei)廠家（科文試驗(yan)(yan)設(she)備(bei)高低溫測(ce)試箱(xiang)）的(de)多數試驗(yan)(yan)箱(xiang)實際的(de)溫度波動都可以(yi)控(kong)制在±0.3℃的(de)范圍(wei)以(yi)內。

科文高低(di)溫(wen)(wen)測試(shi)箱溫(wen)(wen)度(du)均勻度(du)，為了更正確地模擬產(chan)品在自(zi)然界所遭受的(de)實際環境(jing)狀況，在環境(jing)試(shi)驗中(zhong)必須保(bao)證被試(shi)產(chan)品在周邊處在同一溫(wen)(wen)度(du)環境(jing)條(tiao)件下，為此，必須對試(shi)驗箱內的(de)溫(wen)(wen)度(du)梯度(du)和溫(wen)(wen)度(du)的(de)波動度(du)加以(yi)限制。在國(guo)軍標GJB150.1-86軍設備環境(jing)試(shi)驗方法(fa)總(zong)(zong)則中(zhong)明確規(gui)定“試(shi)驗樣品附近測量系統(tong)的(de)溫(wen)(wen)度(du)應在試(shi)驗溫(wen)(wen)度(du)的(de)±2℃以(yi)內，其溫(wen)(wen)度(du)不超過1℃/m或總(zong)(zong)的(de)zui大值為2.2℃"。