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觸控面(mian)板(ban)高(gao)低(di)溫(wen)濕度及沖(chong)擊試驗規范
觸控式面(mian)板(ban)（Touch Panel）
觸(chu)控式面板為一(yi)種(zhong)可(ke)以取代計算機鍵(jian)盤及(ji)鼠標，不需要復雜的(de)程序即可(ke)在(zai)計算機熒幕上直接用手指或筆以觸(chu)碰方(fang)式輸入指令(ling)的(de)透明熒幕。
觸控式面板以純玻(bo)璃(li)式及(ji)電阻式的生產技術為(wei)主，純玻(bo)璃(li)式為(wei)*代(dai)技術，其中(zhong)又以電容式（Capacitive）為(wei)主。
電容式的(de)優點(dian)為(wei)防(fang)塵、防(fang)火、防(fang)刮、及具有高分辨率，但有價格昂貴、容易(yi)因靜電或(huo)溼度(du)而造成誤(wu)動作等(deng)缺點(dian)，主要應(ying)用(yong)在各(ge)式信息系統查(cha)詢等(deng)公共應(ying)用(yong)市場上。
電(dian)阻式(shi)則為第(di)二代生產技術，電(dian)阻式(shi)觸控面板(ban)具有高分(fen)辨率(lv)、厚度(du)薄、低耗(hao)電(dian)、價(jia)位低、操作方(fang)便等優點，不過有透光(guang)率(lv)較差、耐久度(du)較差、準確(que)度(du)較低等缺(que)點，主要應用(yong)在(zai)消(xiao)費(fei)性電(dian)子(zi)產品。
⊙實測＆待測品(pin)照片：
項目 | 溫度 | 時(shi)間 | 其他 |
高溫(wen)試驗(yan)-1 | 70℃/40～50%R.H. | 120小(xiao)時 | 試驗結束(shu)后(hou)室(shi)溫下靜置2小時再行測(ce)試，24小時之后(hou)在測(ce)一次。 |
高溫試驗-2 | 70℃ | 240小時 | 試(shi)驗結束后(hou)室溫(wen)下靜置2小(xiao)時再行測試(shi)，24小(xiao)時之(zhi)后(hou)在測一次(ci)。 |
高溫試驗-3 | 80℃ | 1000小時 | 試(shi)驗結(jie)束后(hou)(hou)室溫下(xia)靜(jing)置2小時再行測(ce)試(shi)，24小時之后(hou)(hou)在測(ce)一次。 |
低溫(wen)試驗-1 | -20℃ | 120 小時(shi) | 試驗結(jie)束后(hou)室溫下靜置2小時再行測試，24小時之后(hou)在測一次。 |
低(di)溫試(shi)驗-2 | -20℃ | 240 小時 | 試驗結束(shu)后(hou)室(shi)溫下靜置2小(xiao)時再行測試，24小(xiao)時之后(hou)在測一次。 |
低溫試驗-3 | -40℃ | 1000小時 | 試驗(yan)結束后室(shi)溫(wen)下靜置2小時再行測試，24小時之(zhi)后在測一次。 |
高(gao)溫高(gao)濕試驗-1 | 60℃/90～95%R.H. | - | 96小(xiao)時(必(bi)須沒(mei)有水凝結(jie)于待測品(pin))，然后(hou)離開(kai)至室溫下靜(jing)置2小(xiao)時再行測試(絕(jue)緣阻抗值必(bi)須要有1MΩ數值)，24小(xiao)時之后(hou)在測一次。 |
高溫高濕試驗-2 | 60℃/90%RH | 120小時 | 試驗(yan)結(jie)束后室(shi)溫下靜置2小時再行測(ce)試，24小時之后在測(ce)一次。 |
高溫(wen)高濕(shi)試驗-3 | 70℃/90%RH | 1000小(xiao)時(shi) | 試(shi)驗結束后室(shi)溫下靜置2小時再行(xing)測 |
高溫高濕試驗-4 | 60℃/95%RH | - | 240小(xiao)時(shi)，試(shi)驗結束后室溫下靜置(zhi)2小(xiao)時(shi)再(zai)行測 |
冷(leng)熱沖擊試驗(yan)-1 | -20℃(30分鐘) | - | 10 cycle，試(shi)驗結束(shu)后(hou)室(shi)溫(wen)下靜(jing)置2小(xiao)時再(zai)行(xing)測試(shi)，24小(xiao)時之后(hou)在測一(yi)次(ci)。 |
冷熱沖擊試驗-2 | -20℃(30分鐘(zhong)) | - | 10 cycle，試(shi)驗結束后室溫下靜置2小(xiao)時再行(xing)測(ce)試(shi)，24小(xiao)時之后在測(ce)一次。 |
冷熱沖擊試驗-3 | -20℃(1小(xiao)時(shi)) | - | 10 cycle，試(shi)驗結束后室溫下靜置2小時再行測試(shi)，24小時之后在(zai)測一(yi)次。 |
冷熱沖擊試驗-4 | -40℃(30分鐘(zhong)) | - | 100 cycle，試(shi)驗結束后室溫(wen)下靜(jing)置(zhi)2小時(shi)再(zai)行測試(shi)，24小時(shi)之后在測一次。 |
蒸汽老(lao)化試(shi)驗 | 100℃/100%R.H/1000min | - | - |
觸控式面(mian)板單(dan)點測試 | - | 1.以250g、8mm半(ban)徑(jing)的(de)Silicon手指，每秒(miao)兩次打擊在觸控熒幕(mu)同一點上，并且觸控熒幕(mu)要接到計算機(ji)系統，且要再(zai)通(tong)電的(de)情(qing)況下測試(shi)。 | |
觸控式(shi)面(mian)板書(shu)寫測試(shi) | - | 1.以250g、8mm半(ban)徑(jing)的(de)無水筆，在(zai)一吋(cun)的(de)在(zai)線來(lai)回測(ce)試，并(bing)且(qie)觸控熒幕要接到計算機系統，且(qie)要再(zai)通電(dian)的(de)情(qing)況下(xia)測(ce)試。 | |
觸控式面板表面硬(ying)度 | - | 3H以上(shang) | |
觸控式面板(ban)透光度 |
| 類比式：80﹪以(yi)上 | |
觸控式面板(ban)線性 | - | ＜1.5﹪ | |
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